带材表面缺陷的快速检测

  新 ， 盖两 ， 1994 年第 5 期 五钢科技 氨 别 ． 带材表面缺陷的 快萼检测 掰 表面探 测 系统正在从 作为 质 量保 证手段 的传统作用朝向为生产 过程 中的分析 、 控 制和保持表 面质 量提供反 馈信 息 的系 统发 展 。 SIPAR 表面检测 系统包 括既 可 以用 于 传 统检测法 ， 又可 以用 于较先进检测法 的各 种 功能 ： 仔细地检测缺陷 、 实时分级 、 与高分 辩率 现场 图象显示相连接的操作 报警 、 高水 平带卷质量分析专 用软件工具 、 完全 归档和 检索功能 ， 以及 易于 与常用 的过程控 制装 置 ( P LC ， 实时计算 机和主机 )相 连接 等功能 。 ...

  新 ， 盖两 ， 1994 年第 5 期 五钢科技 氨 别 ． 带材表面缺陷的 快萼检测 掰 表面探 测 系统正在从 作为 质 量保 证手段 的传统作用朝向为生产 过程 中的分析 、 控 制和保持表 面质 量提供反 馈信 息 的系 统发 展 。 SIPAR 表面检测 系统包 括既 可 以用 于 传 统检测法 ， 又可 以用 于较先进检测法 的各 种 功能 ： 仔细地检测缺陷 、 实时分级 、 与高分 辩率 现场 图象显示相连接的操作 报警 、 高水 平带卷质量分析专 用软件工具 、 完全 归档和 检索功能 ， 以及 易于 与常用 的过程控 制装 置 ( P LC ， 实时计算 机和主机 )相 连接 等功能 。 用户都能够根据 检测和 质量 的基 本原 理 以及产 品 的需要 ， 来 确 定 SlPAR 系统是 按 全 自动方法操作 ， 或是作为评定质量 的有效 在线 目标辅 助程 序做相关操作。 l系统 的 描 述 该 系 统 利 用 CCD 线 性 摄 像 机 ， 在 20 M HZ 的 操 作 条 件 下 ， 拍 摄 带材 的 上 、 下 表 面 图象 。系统的 光源是 由一个 带 有荧 光 多 L灯的 高输 出系统 提供 的 ( 图 1) 。 摄象 机 可根据实际的应用需要， 在明视场( 光的反 射) 和／ 或暗视场 ( 光 的扩 散) 情 况 下进 行拍 摄 。 使荧光灯能谱和摄像 机 、 带材表 面与 照 明装置之间的角度最佳化 ． 以适台于被检 测 的特定 产品。该 系统可 以相 对 于正 常 的带 材表 面对所 有盟示 出不 同光学特 性 的缺 结 做定位 和分类 在 冷轧带材 上 可 以稳 定 地检 测的缺陷是划痕 ， 包括夹杂物 、 辊痕 、 锈 蚀 、 气孔 、 氧化皮和 过酸洗等 带材 的闺 象通过 可检 测所 有表 面状 态 异 常 的 合 适 的 电 子 装 置 进 行 处 理。 在 SIPA R 系统 中。 对各种潜 在的缺 陷 ( 通称 为 “斑点” ) 进行分 析 ， 以拽 出 可 以共 同 确定缺 陷的大约 20 种特性。计算 机辩认 系统根据 预编 程序对缺 陷的特性进行 比较 、 分类 。 由于有时 候在此基础 上对各 种斑 点 进 行分类 比较 困难 ， 因此 ， 系 统使 用 了可在 更 广泛范围内提高分类操作水平 的软件 工具 。 对于带材 的各 个 区域 ， 或 整个 带卷 ， 系统 可 孙 誊 孳 I ． 。 。 I J# CCD 线性 摄 象机 和 多孔 荧光灯 帻 洲带 材的 』 ： 下表 面缺 陷 以检制 出由于轧辊所 引起 的实际缺 陷( 例如 热带轧 机的辊痕 ， 计算 2 个连 续缺 陷之间的 相州 位置 ) 和 其它非 重复性 斑 点 ， 如水 点 或 油 点 ． 操作控制 台配置 了高井 辩 率彩 色监 控 器 ， 带材的阁 象． 尤其是 凝 固缺 陷 图象均 可 以在 上 面显 示 出。另 外 ， 还 可应 用 图象 放 大 、 拍摄仝景 、 滚动 、 图象衬 度加深和 假着 色 等功 能 ． 当各个带 卷 被检 测后 ， 根 据需 要 ， 可 自 动打印 出检测总结报告 。此外 ， 所 有的检测 数据 ， 包括灰 色标度 图象都 可 以永 久地 存 储 ， 供 后参考 。 该系统可提供 与主计 算机进 行 标准 和 灵活的通讯 ， 使用 RS422 系列 数据通讯 ； 光 维普资讯